什么是掃描電子顯微鏡？

    掃描電子顯微鏡（Scanning Electron Microscope）是應(yīng)用電子束在樣品表面掃描激發(fā)二次電子成像的電子顯微鏡。主要用于研究樣品表面的形貌與成分。

掃描電子顯微鏡有哪些優(yōu)點？

    1、電子束對樣品的損傷與污染程度較��；

    2、在觀察形貌的同時，還可利用從樣品發(fā)出的其他信號作微區(qū)成分分析；

    3、樣品制備過程簡單，不用切成薄片；

    4、能夠直接觀察樣品表面的結(jié)構(gòu)，樣品的尺寸可大至120MM×80MM×50MM；

    5、樣品可以在樣品室中作三度空間的平移和旋轉(zhuǎn)，因此，可以從各種角度對樣品進行觀察；

    6、景深大，圖象富有立體感。掃描電鏡的景深較光學顯微鏡大幾百倍，比透射電鏡大幾十倍；

    7、圖象的放大范圍廣，分辨率也比較高�？煞糯笫畮妆兜綆资�萬倍，它基本上包括了從放大鏡、光學顯微鏡直到透射電鏡的放大范圍。分辨率介于光學顯微鏡與透射電鏡之間，可達3NM。