一、儀器的主要用途和特點 |
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XPR-300型透射偏光熔點測定儀是地質、礦產、冶金、石油化工、化 學纖維、半導體工業(yè)以及藥品檢驗等部門和相關高等院校的高分子等專業(yè)常用的專業(yè)實驗儀器?晒⿵V大用戶作單偏光觀察,正交偏光觀察,錐光觀察以及顯微攝影,來觀察物體在加熱狀態(tài)下的形變、色變及物體的三態(tài)轉化。
本系統(tǒng)廣泛應用于高分子材料、聚合物材料等化工領域,適用于研究物體的結晶相態(tài)分析、共混相態(tài)分布、粒子分散性及尺寸測量、結晶動力學的過程記錄分析、液晶分析、織態(tài)結構分析、熔解狀態(tài)記錄觀察分析等多研究方向。
偏光顯微熔點測定儀XPR-300系統(tǒng)匯集了光電、模式識別、精密加工、圖象學、自動控制、模量學等多研究領域的技術,是多年研究開發(fā)的結果,本儀器具有可擴展性,可以接計算機和數碼相機。對圖片進行保存、編輯和打印。 |
二、儀器的主要技術指標 |
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1.顯微鏡技術參數:
名稱 |
規(guī)格 |
總放大倍數: |
40X---630X |
無應力消色差物鏡 |
4X/0.1 |
10X/0.25 |
25X/0.40 |
40X/0.65 彈簧 |
63X/0.85 彈簧 |
目鏡 |
10X 十字目鏡 |
10X 分劃目鏡 |
試片 |
石膏 1λ 試片 |
云母 1/4λ 試片 |
石英楔子試片 |
測微尺 |
0.01mm |
濾色片 |
藍色 |
帶座目鏡網絡尺 |
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移動尺 |
移動范圍 30mm×40mm |
鏡筒 |
三目觀察 |
2.熔點儀技術參數:
熱臺組成 |
性能 |
顯微精密控溫儀 |
在 20倍物鏡下工作溫度可達到最高300 ℃ 、溫度運行程序全自動控制;溫度程序段由用戶自行設定, 30段溫度編程,循環(huán)操作,能比較準確的反映設定溫度、爐芯溫度、樣品的實際溫度。每段設定起始溫度,及在該段內可維持時間,升溫速率可調、精度 ± 0.3 ℃、記憶點讀數
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顯微加熱平臺 |
可以隨載物臺移動、工作區(qū)加熱面積大、透光區(qū)域可調、工作區(qū)溫度梯度低于± 0.1
· 起始溫度室溫
·工作區(qū)加熱使用面積至少 1X1厘米
· 工作區(qū)溫度梯度不超過 ± 0.1
· 透光區(qū)域 2mm以上,可調
· 顯示溫度與實際溫度誤差不超過 ± 0.2
· 熱臺可以隨載物臺移動
在加熱狀態(tài)下最高可使用 20倍物鏡 |
注意: 熔點測定(溫度超過100度時,25X的物鏡工作距離
太近,容易損壞鏡頭,請選用長工作距離的物鏡25X、40X的物鏡) |
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三、系統(tǒng)的擴展性 |
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XPR-300C型偏光熔點儀系統(tǒng)是將精密的光學顯微鏡技術、先進的光電轉換技術、優(yōu)異的計算機成像技術和精密的溫控技術結合在一起而開發(fā)研制成功的一項科技產品?梢栽谟嬎銠C上很方便地觀察不同溫度下的偏光效果圖像,并對偏光圖譜進行分析,處理,還可輸出或打印偏光圖片。 |
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XPR-300型透射偏光熔點測定儀
價格 報價 生產廠家 |
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1、偏光顯微鏡XP-300
2、彩色攝像器機
3、熱臺
4、計算機(用戶自購) |
1. 偏光分析軟件
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2.130萬像素彩色成像器,300萬像素彩色成像器,500萬像素彩色成像器 |
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